
PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本npinet高穩(wěn)定高亮度 LED光纖光源裝置 一款壽命約為鹵素光源 50 倍(約 40 000 小時)、功耗卻不到其 1/5 的節(jié)能型 LED 光纖光源系統(tǒng)。
2025-12-16
經(jīng)銷商
97
日本npinet多功能高穩(wěn)定性調(diào)光光源裝置 兼具高穩(wěn)定性與多功能性的光源裝置。 采用通用調(diào)光(選配),實現(xiàn)平滑且精密的亮度調(diào)節(jié)。
2025-12-16
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102
日本npinet金屬鹵化物燈365w高功率光源 采用大功率直流點燈 HID 燈,光量達到公司原 250 W 機(PCS-UMX250)的約 1.8 倍 燈壽命約 2 000 h(光量降至初始 60 %),連續(xù)運行仍保持高穩(wěn)定性
2025-12-16
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134
日本npinet硅晶圓缺陷檢查近紅外鹵素光源 PIS-UHX = 150 W 直流鹵素 + 即插濾片 + 光纖輸出,在 900-1 700 nm 波段為產(chǎn)線/實驗室提供高穩(wěn)定、可定制的近紅外照明,輕松實現(xiàn)“可見光看不到”的內(nèi)部質(zhì)量檢測。
2025-12-16
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Yamada山田光學(xué)玻璃基板劃傷缺陷檢查燈 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查,可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。 憑借高照度照明,可識別表面小至 0.2 μm 的微小顆粒。
2025-12-16
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124
日本yamada山田光學(xué)光掩膜缺陷鹵素檢查燈 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查,可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
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128
Yamada山田光學(xué)0.2μm微小顆粒識別鹵素?zé)? 本裝置用于半導(dǎo)體晶圓及液晶基板在制程中最耗時、最依賴人工的“最終表面”宏觀檢查,可快速發(fā)現(xiàn)異物、劃痕、研磨不均、霧斑、滑移等各類缺陷。
2025-12-16
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Yamada山田光學(xué)潔凈室晶圓檢測鹵素光源 高亮度鹵素光源裝置是潔凈室內(nèi)半導(dǎo)體晶圓表面品質(zhì)管理的工具,憑借高照度照明,可識別表面小至 0.2 μm 的微小顆粒。
2025-12-16
經(jīng)銷商
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