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日本nissin-kikai近紅外光譜測量水分氯離子 IRS-N0917Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實(shí)現(xiàn)可持續(xù)的社會 以貢獻(xiàn)為目標(biāo) 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數(shù)據(jù)。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計(jì)（FTIR） 可同時獲取更廣泛的二維光譜數(shù)據(jù)。 不僅可以在實(shí)驗(yàn)室中使用，也可以帶到現(xiàn)場使用。

日本nissin-kikai中紅外光譜分析儀測量系統(tǒng) IRS-T0812Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實(shí)現(xiàn)可持續(xù)的社會 以貢獻(xiàn)為目標(biāo) 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數(shù)據(jù)。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計(jì)（FTIR） 可同時獲取更廣泛的二維光譜數(shù)據(jù)。 不僅可以在實(shí)驗(yàn)室中使用，也可以帶到現(xiàn)場使用。

日本Sankei一體彈簧式接觸探頭精密測量耐用 CP/CPS/NCP系列 CP系列（通用產(chǎn)品）（CP） 這是一種一體式制造的外部彈簧式接觸探頭。由于可以保持較低的電阻率，因此適合精密測量。 短行程型（CPS） 這是一種一體式制造的外部彈簧式接觸探頭。由于可以保持較低的電阻率，因此適合精密測量。

日本Kiyohara干涉儀檢查儀便攜式可現(xiàn)場檢測 KNC-1 這是一款緊湊的牛頓檢查儀，任何人都可以在制造現(xiàn)場輕松檢查小型光學(xué)元件的表面。 是一款非常適合現(xiàn)場使用、性價比高、可隨身攜帶的測量工具。 可選擇連接干涉條紋分析裝置。

日本進(jìn)口canare高功率kW級連接器用于光纖等 TYPE1/TYPE2/ECF/QBH型 采用異徑熔接技術(shù)、玻璃焊接技術(shù)、包層模條技術(shù)，打造出無需使用粘合劑即可支持kW級的大功率連接器！ 有四種類型的類型可供選擇，以匹配輸出電平。

日本理研rikenkeiki測量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2介紹： 專用于光刻樣品的開爾文探針 輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離 可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費(fèi)米能級 由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化

日本rikenkeiki光學(xué)測量儀用于半導(dǎo)體材料等 AC-5/AC-3 能夠使用平板開放式計(jì)數(shù)器對高達(dá) 4000 cps 的光電子進(jìn)行計(jì)數(shù) 能夠安裝尺寸達(dá) 180 x 180 毫米的大型樣品 任何位置都可以通過點(diǎn)測量進(jìn)行測量。 使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達(dá) 25 個板狀或粉末狀樣品。 通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產(chǎn)生電子的